セット構成
・ ミニチュア欠陥サンプル×10
・ 欠陥位置図
・ 欠陥サンプルの仕様証明書
・ 欠陥サンプルのX線写真またはスチール写真
・ マクロ欠陥標本×10
・ 拡大鏡
・ 製品証明書

AIT

教育用溶接サンプルキット



レベル1トレーニング及びASNT-TC-lA,PCN, EN473に適合した教育用セット

       
  

  

              


NDE法

各々のNDE法をカバーするUT, RT, MT, PT、VTデモンストレーションキット


ミニチュア溶接セットのマクロ断面とX線写真によって溶接部欠陥の傾向、欠陥原理及びサイズを知ることが出来ます。
・ 溶接欠陥の紹介
・ 欠陥発生原理の実証
・ 典型的なNDE欠陥反応を実証
・ 欠陥発生の法則を実証
・ 欠陥サイズの推定

各部門のキットを用意
素材は各々スチール、SUS,アルミニューム
UTキット(超音波探傷試験)
PTキット(浸透探傷試験)
MTキット(磁気探傷試験)
RTキット(放射線透過試験)
VTキット(目視検査)
DMキット(デモンストレーション用−組合せ選択)
*他キットから抜粋し、構成

*各キットのサンプルの構成はサンプルリスト参照
* デモンストレーションキットのマクロ部門はこのリストの
  1〜14までを含みます